產(chǎn)品描述
設(shè)備概述:此設(shè)備為我司開(kāi)發(fā)的針對(duì)高精度半導(dǎo)體晶圓、晶粒外觀缺陷的專(zhuān)業(yè)檢測(cè)設(shè)備,面向半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈晶圓生產(chǎn)企業(yè)及封裝測(cè)試企業(yè)。
檢測(cè)能力:檢測(cè)劃傷、背崩、色差、開(kāi)裂、劃偏、金屬殘留、金屬缺失等缺陷。
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